Epson NS8080MS IC Test Handler

Dirancang untuk Memberikan Performa dan Hasil yang Lebih Baik untuk Semua Kebutuhan Tes Anda

Hasil yang tinggi untuk mendukung pengujian ponsel pintar, tablet PC dan chip otomotif bahkan di dalam lingkungan produksi yang paling ekstrem sekalipun.

Where to Buy

Overview

Kecepatan Sangat Tinggi Nikmati transfer, pengujian dan pengurutan paket chip berkecepatan tinggi sebesar 13.500 chip per jam dengan kekuatan kontak hingga 240kgf.

Menunjang Suhu yang Sangat Tinggi
Menguji chip pada suhu setinggi 155°C dan dengan mudah kembali ke normal dari kesulitan selama penggunaan dengan suhu tinggi.

Penunjang untuk Socket Pitch Lebar
Dengan tata letak yang mengakomodasi bahkan socket pitch yang lebar, dengan mudah menguji sejumlah besar chip, termasuk chip berfrekuensi tinggi (RF).

Specifications

Devices Handled:

Devices Handled: QFP, TSOP, CSP, WLCSP, BGA, QFN, PLCC, LGA, PGA
Min. 3 x 3 to Max. 50 x 50 (Lead pitch: 0.4mm or more) *1

Test Mode:

Test Mode: 8-site (4 x 2)
Square 4-site (2 x 2)
In-Line 4-site (4 x 1)
2-site
Single

Testing Area:

Testing Area: 264 x 149 mm

Standard Socket Pitch (mm):

Standard Socket Pitch (mm): X: 40 Y: 60

Heating Method:

Heating Method: Heating Plate

Index Time:

Index Time *2 (common in Ambient and High Temperature modes): 0.42 sec (up to 160 kgf)*2
0.58 sec (up to 240 kgf)*2

Max. Contact Force:

Max. Contact Force: 240 kgf

Maximum Throughput (units per hour):

Ambient Temperature: 13,500 unitsHigh Temperature: 8,200 units

Binning:

Binning: Max. 6 bins (Auto 3, Manual 3)

Tray:

Tray: JEDEC (135.9 x 315.0 mm)

Temperature Accuracy:

Temperature Accuracy: 50 - 90°C ±2°C
90 - 155°C ±3°C

Handler Dimensions (D x W x H):

Handler Dimensions (D x W x H): 1,500 x 1,860 x 2,000 mm *3

Weight:

Berat: 1,090kg

Power Requirements:

Rated Voltage/Frequency/Current: Single Phase 200 - 240 V AC, 50/60 Hz, 6 kVA

See Full Specs Hide Full Specs

Print All Specs